CEMS顆粒物分析儀的實驗性能測試技術(shù)指標(biāo)與現(xiàn)行的現(xiàn)場檢測技術(shù)指標(biāo)對比，主要增加了重復(fù)性、周漂移、溫度影響、電壓影響、振動影響5個技術(shù)性能指標(biāo)要求，其中典型實驗性能測試指標(biāo)（重復(fù)性和周漂移）、環(huán)境條件的影響測試指標(biāo)三個（溫度影響、電壓影響、振動影響）。

1.重復(fù)性：

系統(tǒng)在量程點處的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為系統(tǒng)的重復(fù)性。

重復(fù)性檢測使用零點裝置和量程點裝置。重復(fù)性用相對標(biāo)準(zhǔn)偏差表示。重復(fù)性監(jiān)測步驟：a.將顆粒物CEMS進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)，使用零點裝置調(diào)零，穩(wěn)定后讀取數(shù)值；b.然后切換至量程點裝置，待示值穩(wěn)定后，讀取數(shù)值，然后回零；c.重復(fù)上述兩步驟6次，計算相對標(biāo)準(zhǔn)偏差，計算公式同氣態(tài)污染物。

2.周漂移：

系統(tǒng)維護(hù)周期應(yīng)不低于7天，顆粒物檢測單元的零點漂移/周和量程漂移/周。168小時后，分別置入零點和量程點裝置，待度數(shù)穩(wěn)定后記錄相關(guān)讀數(shù)，分別計算零點周漂移和量程周漂移。

3.溫度影響：

顆粒物監(jiān)測單元屬于室外設(shè)備，環(huán)境溫度變化-20℃~50℃之間。顆粒物監(jiān)測單元在零點和量程點處受環(huán)境溫度變化影響的最大相對偏差。

溫度的影響在恒溫室內(nèi)進(jìn)行，使用零點裝置和量程點裝置。溫度影響的檢測步驟：a.將顆粒物CEMS放入恒溫室內(nèi)，在20℃條件下穩(wěn)定2小時后監(jiān)測器零點和量程點的初始讀數(shù)；b.改變恒溫室溫度，在某一溫度穩(wěn)定2小時后，置入零點和量程點裝置，穩(wěn)定后讀書。

4.電壓影響：

電壓在標(biāo)稱電壓的±10%范圍內(nèi)變化時，顆粒物監(jiān)測單元在零點和量程點處的最大相對偏差應(yīng)滿足要求。如采用直流供電時系統(tǒng)必須配合自適應(yīng)的直流電器。電壓影響的測試方法與氣態(tài)污染物相同。

5.振動影響：

系統(tǒng)由于振動引起的零點相對偏差和量程點相對偏差。

振動影響檢測使用零點裝置和量程點裝置。震動影響檢測步驟：a.顆粒物CEMS上電穩(wěn)定后，數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)開始記錄系統(tǒng)輸出數(shù)據(jù)，穩(wěn)定后檢測零點讀數(shù)和初始量程點讀數(shù)；b.將系統(tǒng)按照產(chǎn)品說明書規(guī)定的正常安裝方式安裝在振動臺上；c.調(diào)整位移幅值，然后以對數(shù)規(guī)律進(jìn)行掃頻；d.振動完后恢復(fù)2小時；e.分別依次置入零點裝置和量程點裝置，待示值穩(wěn)定后，讀書3次；計算三次讀數(shù)平均值與初始讀數(shù)的偏差，再除以所系統(tǒng)滿量程值，所得相對偏差分別為零點處振動影響和量程點處的振動影響。